键盘光学检测设备（KOI）是一款新型的检测速度快、精度高的表面缺陷视觉检测设备，目前主要应用于键盘表面各种缺陷的快速检测，缺陷类型主要包含印刷质量缺陷、颗粒、划痕、缺键、错键等等，可以有效的替代大量的人工检测，节省人工成本，提高生产效率，提高缺陷产品的检出率。同时利用这个平台的高精度的视觉检测和运动伺服系统，可以非常快速的适应其他产品的表面缺陷的检测，比如PCB、LCD等等。
应用领域：笔记本键帽检测、平面零件表面缺陷检测
设备优势
l 键盘表面缺陷全方位检测：印刷质量、划痕、颗粒、尺寸等
l 处理速度快
l 检测精度高
l 高分辨率线阵相机系统：一次性扫描，高分辨率、大视场范围
l 高精密伺服运动系统：研磨级丝杆、导轨、重复精度高、系统稳定性好
l 检测对象换型方便
l 缺陷类型统计和分析，实时给出改善措施和建议